Следуйте данной инструкции
или оставь онлайн заявку.
Подайте заполненное заявление с подписью на базовую кафедру в Институт физики микроструктур РАН, комн. 223.
Пройти собеседование с заведующим кафедрой Красильником З.Ф.
C 10:00 до 19:00
+7 (831) 417 94 82
mtokman@ipmras.ru
603950, Россия, Нижний Новгород, ГСП-105
C 10:00 до 19:00
+7 (831) 417-94-65
director@ipmras.ru
603950, Россия, Нижний Новгород, ГСП-105
Россия, Нижегородская обл., Кстовский район, д. Афонино, ул. Академическая, д. 7
Юнин Павел Андреевич
Лабораторная работа посвящена исследованию морфологии реальных поверхностей. В рамках работы проводится измерение параметров шероховатости поверхностей полупроводниковых структур различной степени обработки. В качестве методов анализа используются оптическая интерференционная микроскопия белого света и контактная профилометрия. Оба метода позволяют получить прямую информацию о распределении высот точек поверхности. Для характеризации шероховатости поверхностей используется статистическое и фрактальное описание. Проводится сравнение двух экспериментальных методов исследования морфологии поверхности и двух подходов к описанию шероховатости.
Оптическая интерференционная измерительная система белого света Taylor&Hobson Talysurf CCI 2000
Контактный профилометр модели 130, изготовитель завод «Протон-МИЭТ»
