Следуйте данной инструкции
или оставь онлайн заявку.
Подайте заполненное заявление с подписью на базовую кафедру в Институт физики микроструктур РАН, комн. 223.
Пройти собеседование с заведующим кафедрой Красильником З.Ф.
C 10:00 до 19:00
+7 (831) 417 94 82
mtokman@ipmras.ru
603950, Россия, Нижний Новгород, ГСП-105
C 10:00 до 19:00
+7 (831) 417-94-65
director@ipmras.ru
603950, Россия, Нижний Новгород, ГСП-105
Россия, Нижегородская обл., Кстовский район, д. Афонино, ул. Академическая, д. 7
Максим Юрьевич Левичев, Внешняя ссылкаАнна Игоревна Елькина
Лабораторная работа посвящена экспериментальному исследованию температурной зависимости глубины проникновения магнитного поля тонких сверхпроводящих пленок. Пособие содержит теоретическое обоснование экспериментальной методики в рамках теории Лондонов, а также подробное описание эксперимента, включающее в себя пример обработки экспериментальных данных.
Оптическая интерференционная измерительная система белого света Taylor&Hobson Talysurf CCI 2000
Контактный профилометр модели 130, изготовитель завод «Протон-МИЭТ»