Алешкин В. Я.

УНЭ «Исследование шероховатости поверхности методами контактной и оптической профилометрии»

Руководитель

Алешкин В. Я.

Краткое описание работы

Работа предназначена для освоения современных методов расчета спектра электронов и дырок в гетероструктурах AlGaAs/GaAs и InGaAs/GaAs с квантовыми ямами. Для расчетов электронного спектра используется модель Кейна с учетом влияния деформации структуры на электронный спектр. Для расчета спектра дырок используется приближение эффективной массы. В качестве метода решения уравнения Шредингера используется метод матрицы распространения.

Список оборудования